泰克助力汽车测试及质量监控实现效率和创新最大化

参加 2023 年汽车测试及质量监控博览会不仅仅是关于展示汽车技术最新、最伟大的成就，还涉及推动行业创新的前沿工具和技术。在这篇博客文章中，我们将深入探讨博览会上一些激动人心的演示，这些演示有望对汽车测试及质量监控领域产生重大影响。

演示 1：利用双脉冲测试系统最大限度降低开关损耗

对于功率器件工程师而言，最大限度降低开关损耗是一项严峻挑战，尤其对于那些使用碳化硅 (SiC) 和氮化镓 (GaN) 器件的工程师更是如此。这种先进材料有望提高效率，但也有其自身的复杂性。测量硅 (Si)、碳化硅 (SiC) 和氮化镓金属氧化物半导体场效应晶体管 (GaN MOSFET) 和绝缘栅双极晶体管 (IGBT) 的开关参数，并评估其动态行为的标准方法是双脉冲测试 (DPT)。

利用双脉冲测试，工程师能够测量器件导通和关断期间的能量损耗以及反向恢复参数。在能源效率至上的世界中，了解并尽量降低这些损耗至关重要。该演示有望揭示功率器件工程师如何有效应对这一挑战。